【FIB探针｜纳米级精准分析首选】聚焦离子束（FIB）探针，专为材料科学、半导体检测及微纳加工领域打造！采用尖端离子束技术，可实现亚微米级精准刻蚀、样品制备与成分分析，助力芯片失效分析、纳米器件研发及生物样品三维重构。高分辨率成像结合超精细加工能力，大幅提升科研效率与数据可靠性。适配SEM/FIB联用系统，满足集成电路调试、纳米材料表征等严苛需求。
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